{"id":1376,"date":"2021-12-29T13:36:22","date_gmt":"2021-12-29T13:36:22","guid":{"rendered":"https:\/\/novanta.com\/it\/precision-manufacturing\/resources\/whitepapers\/misurazione-altamente-accurata-delle-particelle-mediante-laser\/"},"modified":"2021-12-29T13:36:22","modified_gmt":"2021-12-29T13:36:22","slug":"misurazione-altamente-accurata-delle-particelle-mediante-laser","status":"publish","type":"novanta_tech_paper","link":"https:\/\/novanta.com\/it\/precision-manufacturing\/risorse\/documenti-bianchi\/misurazione-altamente-accurata-delle-particelle-mediante-laser\/","title":{"rendered":"Misurazione altamente accurata delle particelle mediante laser"},"content":{"rendered":"\n<h2 class=\"wp-block-heading\" id=\"h-technical-paper-overview\">Panoramica del documento tecnico<\/h2>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\" id=\"h-highly-accurate-particle-measuring-with-lasers\"><strong>Misurazione altamente accurata delle particelle con i laser<\/strong><\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\"><em>\u00c8 la stabilit\u00e0 del raggio, non la potenza lorda, a determinare i falsi positivi nei contatori di particelle.<\/em><\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Nella produzione di wafer semiconduttori, la purezza dei fluidi chimici, di raffreddamento e di pulizia non \u00e8 un semplice elemento auspicabile: \u00e8 la differenza tra resa e scarti. Un contaminante non rilevato produce un difetto nel wafer; un falso positivo provoca un&#8217;inutile interruzione della linea di produzione. Il laser all&#8217;interno di ogni contatore di particelle determina se il sistema commette un errore che comporta una perdita di resa o un arresto della produzione.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Questo documento tecnico di Laser Quantum (un marchio Novanta) spiega come funziona il conteggio delle particelle all\u2019interno degli strumenti per la purezza dei fluidi nei semiconduttori: il raggio laser attraversa la cella di flusso, la luce diffratta dalle particelle viene catturata da un array di CCD o fotodiodi disposto attorno a un dissipatore di fascio centrale \u2014 e perch\u00e9 i laser gem 532 nm e opus 532 nm (M\u00b2 vicino a 1, puntamento stabile, basso rumore, raffreddamento ad aria) riducono i falsi positivi in un impiego 24 ore su 24, 7 giorni su 7.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\" id=\"h-key-takeaways-include\">I punti chiave includono:<\/h2>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Perch\u00e9 la precisione di puntamento del raggio e il basso rumore \u2014 e non la potenza lorda \u2014 determinano il tasso di falsi positivi nei contatori di particelle liquide<\/li>\n\n\n\n<li>In che modo la luce diffratta dalle particelle in un CCD o in un array di fotodiodi si correla con la dimensione e il conteggio delle particelle<\/li>\n\n\n\n<li>Quando i laser raffreddati ad aria diventano indispensabili: ambienti di fabbricazione di semiconduttori in cui il raffreddamento ad acqua non \u00e8 consentito o fattibile<\/li>\n\n\n\n<li>Cosa offrono i laser gem 532 nm e opus 532 nm: M\u00b2 vicino a 1, feedback di potenza integrato, tecnologia brevettata della cavit\u00e0<\/li>\n\n\n\n<li>Un quadro pratico di integrazione: dimensioni ridotte, elevata efficienza energetica, affidabilit\u00e0 a lunga durata 24 ore su 24, 7 giorni su 7<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Scarica il documento tecnico completo per lo schema ottico del conteggio delle particelle, la motivazione tecnica delle specifiche del laser alla base della riduzione dei falsi positivi nei test di purezza dei fluidi per semiconduttori e le caratteristiche di integrazione (raffreddamento ad aria, feedback di potenza integrato, dimensioni compatte) che determinano se un contatore di particelle sopravvive in ambiente produttivo o diventa un onere di manutenzione.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Panoramica del documento tecnico Misurazione altamente accurata delle particelle con i laser \u00c8 la stabilit\u00e0 del raggio, non la potenza lorda, a determinare i falsi positivi nei contatori di particelle. 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